三维反褶积层析成像处理
在荧光显微镜中，由于失焦光引起的雾霾可以通过描述成像过程的点扩散函数(PSF)的反褶积来抑制。我们表明，STEM断层扫描可以通过从照明轮廓倾斜到用于生成重建的投影角度构建的合成PSF来描述。反褶积在去噪层析图和抑制来自未获取数据的缺失楔的伪影方面非常有效。
Waugh等人(2020)STEM冷冻断层扫描的3D反褶积处理。《美国国家科学院学报》上。http://www.pnas.org/content/117/44/27374
近年来，该方法被推广到TEM层析成像中。
Croxford等人(2021)细胞低温透射电子层析图的熵正则化反褶积。https://www.biorxiv.org/content/10.1101/2021.04.26.441469v1
用于相位和深度对比的STEM技术进展
大多数经典的STEM方法依赖于非相干对比。在生物大分子的低温透射电镜中，高分辨率依赖于相干相位对比。这激发了使用分段二极管检测器(Opal, El-Mul技术有限公司，以色列)探索不同相位对比(DPC)。通过使用定制的扫描生成器和数字化系统，我们发现可以将同时采集的STEM信号组合在一起，以生成表示相位和深度的图像。低温成像的应用正在进行中。
Seifer S.， Houben L. & Elbaum M.(2021)同时相位和深度对比的柔性STEM。显微和微量分析。https://www.cambridge.org/core/journals/microscopy-and-microanalysis/article/flexible-stem-with-simultaneous-phase-and-depth-contrast/131F0EAA69FD8D9665E7E685EC81B1BE#