关于服务

电子能谱单元包含一个超高真空(UHV)多面系统，用于在低于10的压力下进行表面分析⁹托。有多种可用的技术:

1. x射线光电子能谱(XPS) -一种定量分析探针，提供表面(外层~10 nm)成分，元素氧化态，以及沿垂直轴表面原子排列的高分辨率信息。可以在3µm分辨率下获得表面元素浓度的横向映射。
2. 紫外光电子能谱(UPS) -一种在提高能量分辨率下测量价电子能带和二次电子发射(SEE)谱的技术。UPS也可用于导出样例功函数。
3. 扫描俄歇显微镜(SAM) -一种与XPS互补的技术，以提高的横向分辨率提供表面化学分析，在我们的设置中可低至200 nm。
4. 离子散射光谱(ISS)与Ar⁺或者他⁺源束，提供补充的化学信息，提高表面灵敏度。
5. 化学分解电测量(CREM) -一种基于xps的新型技术，由我们的实验室开发，可提供纳米级的测量电来自选定表面和次表面域的信息。这包括(1)内层I-V曲线;(2)地下场与功-函数映射;(3)领域光伏;(4)有机分子层的原子尺度电特性;(5)热电子输运特性;(6)新型热电测量方法;(7)软介电击穿检查方法;和更多。