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x射线衍射(XRD)是一种强大的，非破坏性的技术，能够提供天然和合成固体的结构表征，包括粉末，薄膜，单晶和多晶。x射线衍射实验室提供多种测量技术，使用现代XRD仪器(由日本Rigaku公司制造)和最强大的商业软件Jade Pro (MDI，美国)的组合。总之，这些允许几乎所有类型的材料结构表征，可以在实验室条件下实现。方法包括:

• 定性相位分析，包括使用PDF-4+数据库(ICDD)自动搜索/匹配;
• 定量相分析，包括结晶度的评价;
• 晶格参数评估(需要样品精确定位);
• 微应变测定及晶体大小评估(相干散射长度< 300 nm）;
• Pawley法对晶体结构的细化;
• 用极点图映射法确定纹理;
• 残余应力测量;
• 倒数空间映射;
• 薄膜用于厚度、密度和表面粗糙度估计的反射率；
• 使用Ge(220) 2弹跳单色仪和分析仪进行高分辨率测量;
• Ge(220) 4弹跳单色仪提供单波长(K_a1) x射线;
• 毛细管样品夹用于需要受控环境的材料和/或在平板样品架上有严重优先取向的材料；
• 对温度范围:-180°至300°C的材料进行衍射测量;
• 在温度范围内对材料进行衍射测量:室温至1000°C;
• 在真空下测量(10^－2Mbar)或在指定气体气氛中(如。N₂他)
• 广角和小角x射线散射- (WAXS / SAXS)-在透射中，采用了高分辨率的2维固态探测器;
• 织构薄膜的面内测量;
• 表面映射确定结构异质性；
• 粉末样品可以在零背景硅或石英石板上反射测量。